近期收到某公司寄送的电脑主机样机，该设备在USB接口静电测验中表现出典型脆弱性：对D+/D-信号线kV触摸放电时，防护器材失效导致USB操控芯片损坏，功用中止。

  值得注意的是，样机原有双向ESD维护器材在正压测验中表现正常，但负压冲击下一再失效，且客户明确要求在不改动主板布局的前提下完结整改，一起不得影响USB数据传输功用。

  这一事例集中反映了高速接口静电防护中的常见规划误区，下文将完好呈现毛病剖析与验证进程。

  静电触摸放电测验直接对USB接口D+/D-电路，发现USB电路反常无法作业。

  1. USB接口由RTS5411S芯片来操控，在毛病的样机上直接替换RTS5411S芯片，样机USB功用康复，阐明静电测验损坏RTS5411S芯片引起功用毛病。

  3. 整改前USBD+/D-电路已经有双向ESD二极管，测验静电正压时无毛病现象发生，测验静电负压时，毛病频出。

  在测验负压一再呈现损坏，判别测验负压时通过ESD二极管后残压巨细影响后极电路。同条件下单向ESD二极管比照双向ESD二极管处于负半周的电压时，有远低于双向ESD二极管导通电压（单向ESD二极管负半周导通电压大概在0.7V），能够更快导通泄放反常高压，以及发生对后极电路影响更小的残压。

  故在受静电测验负压影响更大的电路里边，挑选单向ESD二极管能对电路起更好的防护效果。下图为ESD二极管作业时电功用参数曲线图。

  在不影响功用情况下，挑选比原主板上双向ESD二极管导通电压更低双向ESD二极管相同能更快导通泄放反常高压，以及发生对后极电路影响更小的残压。且添加后级电路上电阻阻值来分压通过ESD二极管后发生的残压。

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